X射线荧光分析仪介绍
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X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。
X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。 X射线荧光光谱（XRF）具有干扰小、分析速度快、并且可以同时进行多元素分析等优点，是固体物质成分分析的常规检测手段，也是一种重要的表面/表层分析方法。
X射线荧光分析仪应用领域
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RoHS检测：
测试须知
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1.粉末样品需提供3-5g，样品粒度小于200目，完全烘干，送样前请确保样品量满足要求；
2.轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其它合金不小于1mm，其它材料厚度需满足3-5mm；
3.检测单元表面尽量平整，整块的固体样品，当样品尺寸直径在29mm~50mm，高度在30mm以下，可以直接测试。当样品尺寸直径在24mm以下，高度在20mm以下，需放入样品池后置入固体样品盒，在真空环境中进行测试。
4.粉末样品可能会使用硼酸压片；
5.有效元素测试范围：13Ai~92U。
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