元器件假冒翻新鉴定

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      翻新电子元器件是指将淘汰的、使用过的、低质量等级的或制造过程中的废次品、假冒品,甚至是不同型号或功能的产品,经特殊处理,掩盖原有形貌特征,并采用印刷或激光打标的方式,印刻同一厂家、同型号，甚至是同批次的标识，作为新产品重新投入市场销售。电子元器件的更新速度较快，加上近年芯片紧缺,因此，市场上有充足的淘汰电子元器件可供翻新使用。

      电子元器件翻新的资金投入少,技术含虽低、销售后能带来高额利润，使得不法分子翻新伪造电子器件产品。随着电子和信息技术的快速发展,包括集成电路在内的电子元器件更新换代周期变短，导致元器件用户的供应链管理出现困难，即原设计使用的元器件或集成电路可能已经停产，特别是对元器件用量少、品利多、可靠性要求高的部件或整机厂家而言,由于采购量小不能直接从生产厂商采购，必须通过代理商进行采购，从而给翻新器件提供了进入产业链的机会。如翻新器件进入军品供应链，已经严重影响装备的质量与可靠性。因此，鉴别所购进口元器件是否为翻新产品是军品检验不可或缺的重要环节。

元器件假冒翻新鉴定对象

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电阻器；电容器；磁珠；电感器；变压器；晶体振荡器；晶体谐振器；继电器；半导体分立器件（二极管、三极管、场效应管、达林顿阵列、半导体光电子器件等）；电连接器；开关及面板元件；半导体集成电路（时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、门器件、触发器、LVDS线收发器、运算放大器、电压调整器、电压比较器、电源类芯片（稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等）、数模转换器（A/D、D/A、SRD）、存储器、可编程逻辑器件、单片机、微处理器、控制器等）；滤波器；电源模块；IGBT等。        

元器件假冒翻新鉴定测试标准

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目的：对产品来源存在疑虑，验证是否是原厂、翻新器件。 依据：标准SAE AS6081-2012。

元器件假冒翻新鉴定实例———————————————————————————————————————————————————————————

芯片鉴定测试须知———————————————————————————————————————————————————————————

1、测试所需：芯片规格书，芯片必须为同一个生产批次

2、测试周期：5-7个工作日内

3、可根据客户需求提供中文报告或英文报告